光学偏振与色散精密偏振控制、测量与分析
是德科技XP6级光学偏振与色散仪器 N7780C系列。
全面工具，用于管理极化与色散挑战
是德科技XP6系列光学偏振与色散仪器 全面的控制与分析能力。它们具备高速实时偏振合成、分析、扰码功能，并能测量偏振相关损耗与色散——这些关键指标对于光学元件及子系统的高性能表征与验证至关重要。该仪器 干涉测量、偏振对准、元件表征及传输系统测试。 根据所需功能及输入功率范围选择光学偏振与色散仪器。您可选用热门预设配置，或根据应用需求定制专属方案。
偏振控制
实现对极化状态的完全控制，用于对光纤、调制器和光子元件进行精密测试。
快速切换
通过高达1 MSa/s的采样速率和高达100 krad/s的偏振状态（SOP）切换速度，捕捉快速变化的偏振效应，实现动态分析。
同步扰码
基于环路网络压力测试的电同步SOP变更，兼具时间精度与行为复现能力。
紧凑且集成
每台仪器集多种功能于一体（扰频器/稳定器、偏振仪/控制器），以更少的仪器提供更多功能。
功能性
偏振合成器，偏振分析仪，同步扰码器，偏振计
输入功率范围
-38 dBm to +19 dBm, -50 dBm to +7 dBm, < +20 dBm
波长范围
1240 nm 至 1650 nm
插入损耗
4.0 分贝 至 5.0 分贝
极化不确定性状态
1.5° 至 2